Proizvod vam ne odgovara? Nema veze! Proizvode možete vratiti do 30 dana
S poklon bonom ne možete pogriješiti. Za poklon bon primatelj može odabrati bilo što iz naše ponude.
Do 30 dana za povrat
This book explains aspects of transmission electron microscopy and x-ray diffractometry that are important for characterization of materials. The 4th edition adds new techniques such as electron tomography, nanobeam diffraction and geometric phase analysis.
Dobar dan! Ja sam Libroamiko, vaš književni savjetnik.
Kako vam mogu pomoći?